/* 我自己覺得是一些感悟，可能只是一些感知，缺乏了悟。其實(shí)在懵懵懂懂之間，也沒有悟出來(lái)啥東西，僅僅記錄一下感想。*/

關(guān)于控制程序的測(cè)試

我一般把控制程序測(cè)試分為三級(jí)：L1 功能、功能塊、程序塊級(jí)別的測(cè)試；L2 系統(tǒng)級(jí)別測(cè)試，半實(shí)物仿真；L3 實(shí)物測(cè)試。

至于這種劃分是否科學(xué)合理，我覺得這個(gè)事情也沒有定論，只是為了方便，劃分的粗一點(diǎn)還是細(xì)一點(diǎn)都沒問題。除了結(jié)構(gòu)化文本語(yǔ)言，我沒怎么用過61131-3中的其他幾種語(yǔ)言，可能是以前用C，比較習(xí)慣了，自然過渡到ST，對(duì)其他的圖形化的編程工具，沒用過，也不知道咋用。

L1級(jí)別測(cè)試就是對(duì)程序中使用的功能、功能塊和程序塊進(jìn)行逐個(gè)測(cè)試。我自己最早開發(fā)程序的時(shí)候基本不進(jìn)行L1級(jí)別測(cè)試，基本把子程序（指的是功能、功能塊和程序塊）寫出來(lái)，編譯無(wú)錯(cuò)誤就可以，再寫主程序，調(diào)用這些子程序，編譯，直接進(jìn)行L2級(jí)別的測(cè)試，出了問題再去子程序里面去找，直到把這些問題都修正。

這種方式存在的問題是：有可能問題太多，程序根本不能運(yùn)行；系統(tǒng)輸出或者響應(yīng)不正常，但是根本定位問題出在哪個(gè)子程序。

對(duì)于開發(fā)者來(lái)說，進(jìn)行這樣的調(diào)試非常困難。調(diào)試過程頭暈?zāi)X脹，非常耗費(fèi)腦細(xì)胞，耗時(shí)耗體力。

比較好的方式是每一個(gè)子程序都對(duì)應(yīng)一個(gè)單獨(dú)的測(cè)試程序，分別進(jìn)行子程序的單獨(dú)測(cè)試。現(xiàn)在已經(jīng)有一些開源的庫(kù)，對(duì)程序進(jìn)行unity測(cè)試。

通過子程序測(cè)試，把每個(gè)子程序測(cè)試完成，確保每個(gè)子程序功能正確。然后進(jìn)行主程序測(cè)試。這樣可以把測(cè)試分塊分區(qū)域，第一保證測(cè)試的完備，第二節(jié)約查找問題的時(shí)間。

L2 級(jí)別測(cè)試目前也就是把主程序和子程序組合在一起進(jìn)行測(cè)試。因?yàn)槌绦蜻\(yùn)行的條件不具備，一般是通過幾種方式來(lái)解決: 屏蔽一部分不能運(yùn)行的部分；在程序里做一段模擬程序。對(duì)于批量生產(chǎn)的產(chǎn)品來(lái)說，這兩種測(cè)試方式都有一些弊端。

我比較推薦采用半實(shí)物仿真的方式，或者有的控制器廠家提供仿真模塊，這種模式可以對(duì)程序進(jìn)行更充分的測(cè)試。

可能會(huì)有的工程師說，我到現(xiàn)場(chǎng)直接進(jìn)行L3級(jí)別的測(cè)試不就行了，還用這么費(fèi)勁。這樣做主要基于下面兩個(gè)原因：第一我們希望現(xiàn)場(chǎng)的調(diào)試時(shí)間越短越好，現(xiàn)場(chǎng)條件比較艱苦，測(cè)試環(huán)境不好搭建，調(diào)試時(shí)間過長(zhǎng)客戶感受變差；第二個(gè)原因是現(xiàn)場(chǎng)實(shí)物測(cè)試存在風(fēng)險(xiǎn)，不是所有的功能都很容易實(shí)現(xiàn)。

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